芯片溫度測試變化試驗箱

型號：TEB-255PF

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更新時間：2025-02-25

價格：45980

簡要描述：

芯片溫度測試變化試驗箱
可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件
或相關(guān)行業(yè)的實驗部門提供一個模擬環(huán)境，為
測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性（可重復(fù)）提供*條件。

詳細(xì)介紹

品牌	HT/皓天	價格區(qū)間	2萬-5萬
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣

芯片溫度測試變化試驗箱

升溫時間(平均/min)	非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃）
降溫時間(平均/min)	非線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃）

芯片溫度測試變化試驗箱

1 、試驗箱結(jié)構(gòu)設(shè)計新穎合理，配套產(chǎn)品和功能元器件具有較高水平，能夠適應(yīng)長期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。能夠滿足用戶為從事上述用途的加工生產(chǎn)要求，且使用、操作、維修方便，使用壽命長，造型美觀，有良好的用戶界面，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀。

2、設(shè)備主要部件選用國際品牌廠家的產(chǎn)品，確保整機(jī)的質(zhì)量和性能。

3 、設(shè)備性能完善、人機(jī)對話功能簡便易操作。

4、擁有自主知識產(chǎn)權(quán)和外觀設(shè)計以及掌握環(huán)境試驗箱核心技術(shù)

5、控制儀表采用日本*"優(yōu)易控"UMC1200，可實行遠(yuǎn)程監(jiān)控

6、制冷系統(tǒng)采用法國原裝泰康壓縮機(jī)組，并配有凝結(jié)水接水盤

7、核心電氣元器件均采用施耐德等

8、沿襲國外環(huán)境試驗設(shè)備*設(shè)計理念，水電分離